Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement SCIE

儀器儀表和測量的IEEE Transactions  國際簡稱：IEEE T INSTRUM MEAS

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement（儀器儀表和測量的IEEE Transactions雜志）是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術(shù)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC為研究方向，OA非開放（Not Open Access）的國際優(yōu)秀期刊。旨在幫助發(fā)展和壯大工程技術(shù)及相關(guān)學(xué)科的各個(gè)方面。該期刊接受多種不同類型的文章。本刊出版語言為English，創(chuàng)刊于1952年。自創(chuàng)刊以來，已被SCIE（科學(xué)引文索引擴(kuò)展板）等國內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文，重點(diǎn)介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實(shí)踐中的理論、研究和應(yīng)用。

雜志介紹

  • ISSN：0018-9456

    E-ISSN：1557-9662

    出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

  • 出版語言：English

    出版地區(qū)：UNITED STATES

    出版周期：Bimonthly

  • 是否OA：未開放

    是否預(yù)警：否

    創(chuàng)刊時(shí)間：1952

  • 年發(fā)文量：2247

    影響因子：5.6

    研究類文章占比：99.47%

    Gold OA文章占比：6.42%

    H-index：100

    出版國人文章占比：0.31

    出版撤稿文章占比：

    開源占比：0.07...

    文章自引率：0.2321...

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》是一份國際優(yōu)秀期刊，為工程技術(shù)領(lǐng)域的研究人員和從業(yè)者提供科學(xué)論壇。該期刊涵蓋了工程技術(shù)及相關(guān)學(xué)科的所有方面，包括基礎(chǔ)和應(yīng)用研究，使讀者能夠獲得來自世界各地的最新、前沿的研究。該期刊歡迎涉及工程技術(shù)領(lǐng)域的原創(chuàng)理論、方法、技術(shù)和重要應(yīng)用的稿件，并刊載了涉及工程技術(shù)領(lǐng)域的相關(guān)欄目：綜述、論著、述評(píng)、論著摘要等。所有投稿都有望達(dá)到高標(biāo)準(zhǔn)的科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)性，并為推進(jìn)該領(lǐng)域的科研知識(shí)傳播做出貢獻(xiàn)。該期刊最新CiteScore值為9，最新影響因子為5.6，SJR指數(shù)為1.536，SNIP指數(shù)為1.741。

期刊Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement近年評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)趨勢圖

中科院SCI期刊分區(qū)大類分區(qū)趨勢圖
期刊自引率趨勢圖
期刊CiteScore趨勢圖
期刊影響因子趨勢圖
期刊年發(fā)文量趨勢圖

期刊CiteScore指數(shù)統(tǒng)計(jì)（2024年最新版）

CiteScore指標(biāo)的應(yīng)用非常廣泛，以期刊的引用次數(shù)為基礎(chǔ)評(píng)估期刊的影響力。它可以反映期刊的學(xué)術(shù)影響力和學(xué)術(shù)水平，是學(xué)術(shù)界常用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)之一。

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
9 1.536 1.741
學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Instrumentation Q1 13 / 141

91%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electrical and Electronic Engineering Q1 114 / 797

85%

CiteScore是由Elsevier公司開發(fā)的一種用于衡量科學(xué)期刊影響力的指標(biāo)，以期刊的引用次數(shù)為基礎(chǔ)評(píng)估期刊的影響力。這個(gè)指標(biāo)是由Scopus數(shù)據(jù)庫支持，以四年為一個(gè)時(shí)段，連續(xù)評(píng)估期刊和叢書的引文影響力的。具體來說，CiteScore是計(jì)算某期刊連續(xù)三年發(fā)表的論文在第四年度的篇均引用次數(shù)。CiteScore和影響因子（IF）有所不同。例如，在影響因子的計(jì)算中，分子是來自所有文章的引用次數(shù)，包括編輯述評(píng)、讀者來信、更正信息和新聞等非研究性文章，而分母則不包括這些非研究性文章。然而，在CiteScore的計(jì)算中，分子和分母都包括這些非研究性文章。因此，如果這些非研究性文章比較多，由于分母較大，相較于影響因子，CiteScore計(jì)算出來的分?jǐn)?shù)可能會(huì)偏低。此外，CiteScore的引用數(shù)據(jù)來自Scopus數(shù)據(jù)庫中的22000多個(gè)期刊，比影響因子來自Web of Science數(shù)據(jù)庫的11000多個(gè)期刊多了一倍。

期刊WOS(JCR)分區(qū)（2023-2024年最新版）

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 352

85.1%
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 9 / 76

88.8%
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 52 / 354

85.45%
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 76

91.45%

WOS(JCR)分區(qū)是由科睿唯安公司提出的一種新的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，分區(qū)越靠前一般代表期刊質(zhì)量越好，發(fā)文難度也越高。這種分級(jí)體系有助于科研人員快速了解各個(gè)期刊的影響力和地位。JCR將所有期刊按照各個(gè)學(xué)科領(lǐng)域進(jìn)行分類，然后以影響因子為標(biāo)準(zhǔn)平均分為四個(gè)等級(jí)：Q1、Q2、Q3和Q4區(qū)。這種設(shè)計(jì)使得科研人員可以更容易地進(jìn)行跨學(xué)科比較。

中科院SCI期刊分區(qū)

中科院SCI期刊分區(qū)是由中國科學(xué)院國家科學(xué)圖書館制定的。將所有的期刊按照學(xué)科進(jìn)行分類，以影響因子為標(biāo)準(zhǔn)平均分為四個(gè)等級(jí)。分區(qū)越靠前一般代表期刊質(zhì)量越好，發(fā)文難度也越高。

2023年12月升級(jí)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
是 否 工程技術(shù) 2區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
2區(qū) 2區(qū)

2022年12月升級(jí)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
2區(qū) 2區(qū)

2021年12月舊的升級(jí)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
2區(qū) 2區(qū)

2021年12月基礎(chǔ)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 工程技術(shù) 3區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
3區(qū) 2區(qū)

2021年12月升級(jí)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
2區(qū) 2區(qū)

2020年12月舊的升級(jí)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
2區(qū) 2區(qū)

投稿提示

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement(中文譯名儀器儀表和測量的IEEE Transactions雜志)是一本專注于工程技術(shù),工程：電子與電氣領(lǐng)域的國際期刊，致力于為全球ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領(lǐng)域的研究者提供一個(gè)高質(zhì)量的學(xué)術(shù)交流平臺(tái)。該期刊ISSN：0018-9456，E-ISSN：1557-9662，出版周期Bimonthly。在中科院的大類學(xué)科分類中，該期刊屬于工程技術(shù)范疇，而在小類學(xué)科中，它主要涵蓋了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC這一領(lǐng)域。編輯部誠摯邀請(qǐng)廣大工程技術(shù)領(lǐng)域的專家學(xué)者投稿，內(nèi)容可以涵蓋工程技術(shù)的綜合研究、實(shí)踐應(yīng)用、創(chuàng)新成果等方面。同時(shí)，我們也歡迎學(xué)者們就相關(guān)主題進(jìn)行簡短的交流和評(píng)論，以促進(jìn)學(xué)術(shù)界的互動(dòng)與合作。為了保證期刊的質(zhì)量，審稿周期預(yù)計(jì)為 約6.8個(gè)月 。在此期間，編輯部將對(duì)所有投稿進(jìn)行嚴(yán)格的同行評(píng)審，以確保發(fā)表的文章具有較高的學(xué)術(shù)價(jià)值和實(shí)用性。

值得一提的是，Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement近期并未被列入國際期刊預(yù)警名單，這意味著其學(xué)術(shù)質(zhì)量和影響力得到了廣泛認(rèn)可。該期刊為工程技術(shù)領(lǐng)域的學(xué)者提供了一個(gè)優(yōu)質(zhì)的學(xué)術(shù)交流平臺(tái)。因此，關(guān)注并投稿至Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement無疑是一個(gè)明智的選擇，這將有助于提升您的學(xué)術(shù)聲譽(yù)和研究成果的傳播。

多年來，我們專注于期刊投稿服務(wù)，能夠?yàn)槟治鐾扑]目標(biāo)期刊。憑借多年來豐富的投稿經(jīng)驗(yàn)和專業(yè)指導(dǎo)，我們有效助力提升錄用幾率。點(diǎn)擊以下按鈕即可免費(fèi)咨詢。

投稿咨詢

期刊發(fā)文分析

國家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
國家 / 地區(qū) 發(fā)文量
CHINA MAINLAND 696
Italy 237
USA 215
India 144
England 101
Canada 92
GERMANY (FED REP GER) 70
Spain 53
South Korea 47
Brazil 38
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
期刊引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T INSTRUM MEAS 2095
IEEE SENS J 265
IEEE T IND ELECTRON 205
MEAS SCI TECHNOL 203
SENSORS-BASEL 177
IEEE T MICROW THEORY 174
METROLOGIA 167
IEEE T POWER DELIVER 162
MEASUREMENT 151
MECH SYST SIGNAL PR 132
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
期刊被引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T INSTRUM MEAS 2095
IEEE ACCESS 940
SENSORS-BASEL 761
IEEE SENS J 555
MEASUREMENT 390
ENERGIES 245
APPL SCI-BASEL 194
ELECTRONICS-SWITZ 169
IEEE T IND ELECTRON 149
MEAS SCI TECHNOL 149
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
文章引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
Automatic Defect Detection of Fasteners on... 54
Intelligent Bearing Fault Diagnosis Method... 53
Medical Image Fusion With Parameter-Adapti... 43
Monitoring of Large-Area IoT Sensors Using... 40
Vibration-Based Intelligent Fault Diagnosi... 34
Deep Architecture for High-Speed Railway I... 26
Highly Sensitive SPR Biosensor Based on Gr... 26
RideNN: A New Rider Optimization Algorithm... 25
An Unsupervised-Learning-Based Approach fo... 21
A CNN-Based Defect Inspection Method for C... 20

免責(zé)聲明

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